卓上型Ｘ線回折装置
今までのＸ線回折では測定不可な極表面試料の情報取得可能
サンプルの環境条件を変えながらin-situ測定可能
短時間で全回折パターンを同時に取得したい（再解析不要）
豊富なアクセサリーで様々な試料や条件で測定可能
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- メーカー
- ThermoScientific
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- 型式
- EQUINOX 100
特徴
- 全回折パターン同時収集（～110°2θ)
- 低出力のマイクロフォーカス線源からの強力X線
- 稼働箇所無し
- 分析時間の短縮化
- 再測定不要
- 面倒な分析条件不要動的挙動解析に力を発揮
- GIXRD（微少角入射X線回折測定）が可能
- さまざまな試料・分析条件に適合する
- 多彩なホルダーもラインアップ
その他
独自のCPS検出器でリアルタイムの同時データ取得
全回折パターン(～110° 2θ）の同時取得
分析時間の短縮
再測定不要
面倒な設定（照射時間/ステップ、測定範囲、スリット等の分析条件設定）が不要
動的解析(温度・環境・圧力等の条件を関数として、リアルタイムの結晶学測定が可能)
